產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：電滯回線測(cè)試電學(xué)綜合測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：HCTD 3000
產(chǎn)品廠商：華測(cè)
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
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簡(jiǎn)單介紹：

電滯回線測(cè)試電學(xué)綜合測(cè)試儀是由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是一款**科研、材料開(kāi)發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域設(shè)計(jì)的測(cè)試儀，功能材料電學(xué)綜合測(cè)試儀集成了高精度測(cè)量技術(shù)、自動(dòng)化控制技術(shù)和效率高的數(shù)據(jù)分析算法，評(píng)估各類功能材料的電學(xué)性能，可用于功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，為材料科學(xué)家、工程師和研究人員提供強(qiáng)有力的測(cè)試支持。

詳情介紹：

電滯回線測(cè)試電學(xué)綜合測(cè)試儀

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

擴(kuò)展優(yōu)勢(shì)
本套測(cè)試儀可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理和軟件兼容性上做了大量的接口，更易于擴(kuò)展，更加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。
性能優(yōu)勢(shì)
保護(hù)：增加TVS保護(hù)過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)溫等技術(shù)，更加可靠。軟件：在測(cè)試功能、數(shù)據(jù)處理、操作等更加人性化方面做了大量的改進(jìn)；測(cè)量：與其它儀器做了大量的測(cè)試對(duì)標(biāo)，與計(jì)量院通力合作；進(jìn)行檢測(cè)計(jì)量，確保數(shù)據(jù)的有效與真實(shí)。
定制化服務(wù)
在工裝、夾具定制化方面方便可靠。

測(cè)試模塊

1.鐵電參數(shù)測(cè)試功能
動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率
靜態(tài)電滯回錢測(cè)試
脈沖測(cè)試
疲勞測(cè)試
保持力
印跡
漏電流測(cè)試
變溫測(cè)試功能
2.絕緣電阻測(cè)試功能
高準(zhǔn)確度的電壓輸出與電流測(cè)量，確保測(cè)試的品質(zhì)，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如：陶瓷材料、硅橡膠測(cè)試、PCB、云母、四氟材料電阻測(cè)試、也可做為科研院所新新材料的高溫絕緣電阻的性能測(cè)試。
3.壓電參數(shù)測(cè)試功能
可進(jìn)行壓電陶瓷的唯靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試，也可通過(guò)高壓放均由位移傳感器（如勘怪干涉儀）動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量。
4.高溫四探針測(cè)試功能
符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其他新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)標(biāo)并參考美標(biāo)A.S.T.M，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
5.熱釋電測(cè)試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。薄膜材料變溫范圍：－196℃~＋600℃；塊體材料變溫范圍：室溫~200℃、室溫 ~600℃、室溫~800°C。
6.介電溫譜測(cè)試功能
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣晶隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試。
7.塞貝克系數(shù)／電阻測(cè)量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測(cè)量選件，低溫選件溫度范圍-100℃ ~200℃，高阻選件高至10MΩ。
8.電卡效應(yīng)測(cè)試功能
可以用于測(cè)試材料，在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。
溫度范圍：-50℃~200℃；
熱流時(shí)間范圍：1s-1000s；
電壓可達(dá)10kV；
波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形。
9.熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀TSDC
用于研究功能材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

配置

應(yīng)用領(lǐng)域

電滯回線測(cè)試電學(xué)綜合測(cè)試儀可應(yīng)用于鐵電材料、電子陶瓷、熱釋電、薄膜、科學(xué)研究、材料開(kāi)發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)以及器件測(cè)試電子、電氣、能源等行業(yè)。

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產(chǎn)品名稱：電滯回線測(cè)試電學(xué)綜合測(cè)試儀

電滯回線測(cè)試電學(xué)綜合測(cè)試儀

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

測(cè)試模塊

配置

應(yīng)用領(lǐng)域