儀器簡(jiǎn)介：

  表面、體積電阻率測(cè)試儀（高阻計(jì)）既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。測(cè)量度達(dá)到 3%。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量程從 0.01×10e⁴Ω～1×10e¹⁸Ω，是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍zui寬，準(zhǔn)確度zui高的數(shù)顯式絕緣材料電阻率測(cè)量?jī)x器。電流測(cè)量范圍為 2×10e^-4～1×10e^-16Ａ。測(cè)試電壓為 10/50/100/250/500/1000V 任意可調(diào)。

設(shè)備原理：

     導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)是度差、分辨率低。
      H-300導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以，即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大，其測(cè)量度很高 ，從理論上講其誤差可以做到零，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾。